
偏振同調光達技術突破:單次掃描同時量測深度、速度與材質特性
多倫多大學與Ciena、Vector Institute、POSTECH研究團隊共同研發的新型偏振全波場同調光達系統,創新地在單次掃描中獲取深度、速度與偏振特性三項資訊。相比傳統光達僅能量測距離,新系統透過偏振分析能辨識玻璃、水面、金屬等反射或半透明材質,解決既有感測盲點。同調光達的相位分析技術在雜訊抑制與速度量測上優於飛行時間技術。該技術對無人機低空導航、自動駕駛雨天感測、工業檢測與環境監測具有重要應用價值,目前仍在學術階段,商業化進程有待觀察。
來源:LiDAR News








